原子力顯微鏡
當前位置:泰初科技(天津)有限公司 >> 應用領域 >> 原子力顯微鏡
原子力顯微鏡

原子力顯微鏡(AFM)是掃描探針顯微鏡(SPM)模式中的一員,在尖銳針尖與樣品表面之間,使用機械力、電學或者磁學相互作用來獲得樣品表面的圖像。近年來,高精密的電子儀器及光學儀器的出現,促進了SPM向更加復雜的成像模式和更高時間分辨與空間分辨成像方向發展。針對不同的樣品特性,把幾種現有的成像模式綜合在一起來獲得樣品表面的形貌像也日益受到了人們的廣泛關注。此外,隨著科研人員對研究樣品在微小時間尺度上的相互作用越來越感興趣,任意波形發生器(AWG)或者飛秒激光器結合AFM可以實現時間分辨的測量與成像。


懸臂梁探針與樣品之間相互作用的微弱力轉化為電信號后是一個比較微弱的電信號,如果要檢測這種微弱的電信號,需要使用鎖相放大器、信號平均器(BOXCAR)或者單光子計數技術等。在AFM的各種高級成像模式中,最常見的電學檢測設備是寬頻數字鎖相放大器和信號平均器。Zurich Instruments提供了一系列不同規格的高精密微弱信號檢測儀器如雙通道鎖相放大器(HF2、UHF)、BOXCAR均分器等,其均可以應用于AFM的高級成像。


HF2PLL用于恒振幅AFM模式
在這個AFM應用中,懸臂梁由可變振幅和可變頻率信號在共振狀態下驅動。由于懸臂梁與樣品之間的相互作用,探測器的信號在振幅和相位上都會發生變化。為了保持懸臂梁處于共振狀態下,采用高速鎖相環(PLL)來跟蹤相移,相對于感測信號而言,驅動信號施加90度的位移,而輸出振幅通過一個快速的PID控制器來進行調節以便懸臂梁在恒定振幅下有讀數。鎖相環的頻移信號是形貌的直接測量結果而耗散量是施加到懸臂梁保持震蕩恒定的一個能量的直接測量,因此,靜電力/磁力/化學/分子力的關系施加到懸臂梁上。

恒振幅模式可應用于接觸/非接觸AFM、KPFM、高速成像、動態力譜。


hf2_application_afm-ca.png


HF2PLL 橫激勵/恒驅動AFM模式
在這個AFM應用中,懸臂梁由恒定振幅和可變頻率信號在共振狀態下驅動。由于懸臂梁與樣品之間的相互作用,探測器的信號在振幅和相位上都會發生變化。為了維持懸臂梁處于共振狀態,采用高速鎖相環(PLL)來跟蹤相移,相對于感測信號而言,驅動信號施加了90度的位移。PLL的頻移是形貌像的一種直接測量。

橫激勵/恒驅動模式可應用于接觸/非接觸AFM、KPFM、高速成像、動態力譜。


hf2_application_afm-ca_0.png


雙頻共振跟蹤原子力顯微鏡(DFRT AFM)

由于多層薄膜和多鐵性材料變得越來越薄,為了降低極化電壓,可以采用共振增強測量的需求來增加靈敏性。雖然在固定低頻信號的鎖相測量適用于塊體材料的應用,但是,對于機械或者靜電激發的納米機械響應可以在AFM傳感器的接觸共振處得到極大的提高。借助Zurich Instruments雙通道鎖相放大器,雙模型激勵、邊帶探測和振幅差的PID反饋可以同時完成平面內和平面外的組分測量。


DFRT方法描述

鎖相放大器內部的PID控制器被用來調節共振頻率附近的f1和f2頻率的振幅差。振幅差的大小和符號可被用來計算誤差信號,以便PID控制調節驅動頻率(f1+f2)/2。


DFRT.png


在共振時,振幅A1和A2之間沒有差別,從而也就沒有誤差信號產生。如果共振頻率像上圖中所示發生降低,那么A2'-A1'是負值而驅動頻率降低。


LabOne軟件中的DAQ Tab下的grid mode可以直接顯示樣品的振幅和相位像


LabOne-image.png DFRT-1.png

上圖中顯示了使用DFRT模式下的第四諧波響應測量納米晶Sm摻雜氧化鈰樣品的振幅和相位像。


如下表格展示了Zurich Instruments儀器在AFM中的各種成像模式與所需要的選件。


AFM.jpg


Copyright©2017 泰初科技(天津)有限公司(Techu Scientific (Tianjin) Co., Ltd.) ICP主體備案號:津ICP備18001023號
久久亚洲精品